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    LS係列高精度激光掃描測頭

    描述:采點間隔為30微米真實還原精密微小零件的三維形貌精度可達12微米,同類產品精度較優,可用於精密零件的檢測。相機寬增益範圍調節,自動適應不同顏色,不同光澤的物體,而無需對物體表麵進行處理。

    更新時間:2024-09-11
    訪問次數:985
    廠商性質:代理商
    詳情介紹
    采點間隔為30微米
    真實還原精密微小零件的三維形貌
    精度可達12微米,同類產品精度較優,可用於精密零件的檢測。
    相機寬增益範圍調節,自動適應不同顏色,不同光澤的物體,而無需對物體表麵進行處理。

     
     

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