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    產品詳情
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    通用型鎢燈絲掃描電子顯微鏡

    描述:SEM3200是一款高性能、應用廣泛的通用型鎢燈絲掃描電子顯微鏡。擁有出色的成像質量、可兼容低真空模式、在不同的視場範圍下均可得到高分辨率圖像。
    大景深,成像富有立體感。豐富的擴展性,助您在顯微成像的世界中盡情探索。

    更新時間:2024-09-10
    訪問次數:1062
    廠商性質:代理商
    詳情介紹

    產品特點(*為選配件)

    低電壓

    碳材料樣品,低電壓下,穿透深度較小,可以獲取樣品表麵真實形貌,細節更豐富。

    低電壓-碳高電壓-碳

    毛發樣品,在低電壓下,電子束輻照損傷減小,同時消除了荷電效應。

    低電壓-毛發高電壓-毛發

    低真空

    過濾纖維管材料,導電性差,在高真空下荷電明顯,在低真空下,無需鍍膜即可實現對不導電樣品的直接觀察。

    低真空高真空

    大視場

    生物樣品,采用大視場觀察,能夠輕鬆獲得瓢蟲整體形貌及頭部結構細節,展現跨尺度分析。

    低電壓-毛發高電壓-毛發

    導航&防碰撞

    光學導航

    想看哪裏點哪裏,導航更輕鬆
    標配倉內攝像頭,可拍攝高清樣品台照片,快速定位樣品。

    光學導航
    手勢快捷導航

    可通過雙擊移動、鼠標中鍵拖動、框選放大,進行快捷導航
    如框選放大:在低倍導航下,獲得樣品的大視野情況,可快速框選您感興趣的樣品區域,提高工作效率。

    手勢快捷導航手勢快捷導航
    防碰撞技術

    采取多維度的防碰撞方案:
    1. 手動輸入樣品高度,精準控製樣品與物鏡下端距離,防止發生碰撞;
    2. 基於圖像識別和動態捕捉技術,運動過程中對倉內的畫麵進行實時監測;
    3. 硬件防碰撞,可在碰撞一瞬間停止電機,減少碰撞損傷。(*SEM3200A需選配此功能)

    防碰撞技術

    特色功能

    智能輔助消像散

    直觀反映整個視野的像散程度,通過鼠標點擊清晰處,可快速調節像散至最佳。

    智能輔助消像散操作圖智能輔助消像散結果圖
    自動聚焦

    一鍵聚焦,快速成像。

    自動聚焦操作圖自動聚焦結果圖
    自動消像散

    一鍵消像散,提高工作效率。

    自動消像散操作圖自動消像散結果圖
    自動亮度對比度

    一鍵自動亮度對比度,調出灰度合適圖像。

    自動亮度對比操作圖自動亮度對比結果圖
    多種信息同時成像

    SEM3200軟件支持一鍵切換SE和BSE的混合成像。可同時觀察到樣品的形貌信息和
    成分信息。

    多種信息同時成像BSE多種信息同時成像SE
    多種信息同時成像BSE+SE
    快速圖像旋轉

    拖動一條線,圖像立刻“擺正角度"。

    快速圖像旋轉操作圖快速圖像旋轉結果圖

    豐富拓展性

    掃描電子顯微鏡不僅局限於表麵形貌的觀察,更可以進行樣品表麵的微區成分分析。
    SEM3200接口豐富,除支持常規的二次電子探測器(ETD)、背散射電子探測器(BSED)、X射線能譜儀(EDS)外,也預留了諸多接口,如電子背散射衍射(EBSD)、陰極射線(CL)等探測器都可以在SEM3200上進行集成。

    背散射電子探測器
    二次電子成像和背散射電子成像對比

    背散射電子成像模式下,荷電效應明顯減弱,並且可以獲得樣品表麵更多的成分信息。

    鍍層樣品:

    鍍層樣品SE鍍層樣品BSE

    鎢鋼合金樣品:

    鎢鋼合金樣品SE鎢鋼合金樣品BSE
    四分割背散射電子探測器——多通道成像

    探測器設計精巧,靈敏度高,采用4分割設計,無需傾斜樣品,可獲得不同方向的陰影像以及成分分布圖像。

    四個單通道的陰影像

    成分像

    能譜

    LED小燈珠能譜麵分析結果。

    電子背散射衍射

    鎢燈絲電鏡束流大,滿足高分辨EBSD的測試需求,能夠對金屬、陶瓷、礦物等多晶材料進行晶體取向標定以及晶粒度大小等分析。
    該圖為Ni金屬標樣的EBSD反極圖,能夠識別晶粒大小和取向,判斷晶界和孿晶,對材料組織結構進行精確判斷。


    應用案例

    普通芯片-1

    普通芯片-1

    普通芯片-2

    普通芯片-2

    負極-碳

    負極-碳

    負極-碳包矽

    負極-碳包矽

    正極-鈷酸鋰

    正極-鈷酸鋰

    正極-錳酸鋰

    正極-錳酸鋰

    太陽能電池-1

    太陽能電池-1

    太陽能電池-2

    太陽能電池-2

    高分子泡沫

    高分子泡沫

    催化劑-MOF材料

    催化劑-MOF材料

    2A12鋁合金析出相

    2A12鋁合金析出相

    Mg-Zn合金化合物層

    Mg-Zn合金化合物層

    不鏽鋼-黃銅焊接件

    不鏽鋼-黃銅焊接件

    鈦合金基體組織

    鈦合金基體組織

    合金斷口脆性+韌性

    合金斷口脆性+韌性

    韌性斷口

    韌性斷口

    鋼鐵夾雜物BSE

    鋼鐵夾雜物BSE

    鋼鐵夾雜物SE

    鋼鐵夾雜物SE

    矽藻-1

    矽藻-1

    矽藻-2

    矽藻-2

    雞葡萄球菌-1

    雞葡萄球菌-1

    雞葡萄球菌-2

    雞葡萄球菌-2

    大米

    大米

    糯米澱粉顆粒-1

    糯米澱粉顆粒-1

    糯米澱粉顆粒-2

    糯米澱粉顆粒-2

    受潮鹽顆粒

    受潮鹽顆粒

    粉體-鈦酸鋇

    粉體-鈦酸鋇

    粉體-硫酸鎂

    粉體-liusuan鎂

    粉體-氧化鋁

    粉體-氧化鋁

    過濾功能材料

    過濾功能材料

    岩石

    岩石

    納米材料-二氧化矽微球

    納米材料-二氧化矽微球

    SiC陶瓷BSE

    SiC陶瓷BSE

    SiC陶瓷SE

    SiC陶瓷SE

    陶瓷複合材料

    陶瓷複合材料

    產品參數

    型號SEM3200ASEM3200
    電子光學係統電子槍類型預對中型發叉式鎢燈絲電子槍
    分辨率高真空3 nm @ 30 kV(SE)
    4 nm @ 30 kV(BSE)
    8 nm @ 3 kV(SE)
    *低真空3 nm @ 30 kV(SE)
    放大倍率1-300,000x(底片倍率)
    1-1000,000x(屏幕倍)
    加速電壓0.2 kV~30 kV
    成像係統探測器二次電子探測器(ETD)
    *背散射電子探測器、*低真空二次電子探測器、*能譜儀EDS等
    圖像保存格式TIFF、JPG、BMP、PNG
    真空係統真空模式高真空優於5×10-4 Pa
    *低真空5~1000 Pa
    控製方式全自動控製
    樣品室攝像頭光學導航
    樣品倉內監控
    樣品台配置三軸自動五軸自動
    行程X: 120 mmX: 120 mm
    Y: 115 mmY: 115 mm
    Z: 50 mmZ: 50 mm
    /R: 360°
    /T: -10°~ +90°
    軟件語言中文
    操作係統Windows
    導航光學導航、手勢快速導航
    自動功能自動亮度對比度、自動聚焦、自動像散
    特色功能智能輔助消像散、*大圖拚接(選配軟件)
    安裝要求房間長 ≥ 3000 mm,寬 ≥ 4000 mm,高 ≥ 2300 mm
    溫度20 ℃~25 ℃
    濕度≤ 50 %
    電氣參數電源AC 220 V(±10 %),50 Hz,2 kVA
    掃描電子顯微鏡SEM3200





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